Pinta- ja Profiilimittausjärjestelmä OSIRIS - Inline Pinnan Laadun ja Mittojen Tarkkuuden Mittaaminen Pitkille Tuotteille

OSIRIS on kiinteä, optinen mittausjärjestelmä, joka on suunniteltu pitkätuotteiden mittatarkkuuden ja pinnanlaadun inline-valvontaan. Huipputeknologian laser-valosirontatekniikan ja korkeiden näytteenottotaajuuksien avulla OSIRIS-järjestelmät tarjoavat täydellisen 3D-rekonstruktion tuotteesta. OSIRIS Hot -variantilla voidaan analysoida jopa 1 100 asteen kuumia pitkätuotteita. Mittaustulokset näytetään reaaliaikaisesti valvontaterminaalissa, mikä mahdollistaa aikaiset korjaustoimenpiteet läpimenon ja tuotekvaliteetin parantamiseksi. Pintatarkastusominaisuuden avulla tuotepinnan poikkeamat (halkeamat, uurteet, kohoumat jne.) tunnistetaan ja luokitellaan täysin automaattisesti. Lisäksi samanaikaisesti tuotetaan profiilileikkauksia pitkätuotteesta, jotta voidaan tarkistaa pituusmitat, kuten leveys ja korkeus, erilaiset säteet ja kulmat. Eri kokoiset rakenteet mahdollistavat suurten ja pienten pitkätuotteiden mittaamisen. Teknologia: Laservalosironta Toiminnot: Pintatarkastus + Profiilimittaus Variantit: OSIRIS Hot / OSIRIS Cold