Ntegra Marlin - Ominaisuudet

AFMSICMRaman kolmoissynergia voimakkaista nanokarakterisointitekniikoista Hoppauksen tilan ionijohtavuusmikroskopia kosketukseton kuvantaminen eläville soluille ja hyytelöpintojen QNM-teho AFM:ssä ja SICM:ssä kvantitatiivisissa nanomekaanisissa tutkimuksissa Älykäs Patch Clamp automaattinen nanopipetti kohdistus ionikanavien tutkimuksiin Korkean nopeuden pitkän kantaman korkean resoluution kartoitus nanoskaalalla Nanoinjektio nanopipetit SICM-palauteohjauksella voidaan käyttää paikallisiin subpikolitra-injektioihin yksittäisiin soluihin SICM (Skannaava Ionijohtavuusmikroskopia) on SPM-tekniikka, joka käyttää nanopipettiä (terävää lasielektrodia) kosketuksettomaan 3D-pintakartoitukseen korkealla resoluutiolla. SICM:ssä anturin ja näytteen välinen etäisyys säädetään vähentämällä ionivirtaa, joka kulkee kärjen läpi, kun se lähestyy näytteen pintaa. Biophys.Journ. 73, 653658 Asemointiohjaus: kapasitiiviset suljetut silmukkasensorit X, Y, Z -akseleilla XY-matkakenttä: 30×30 μm (valinnaisesti jopa 100×100 μm) Z-matkakenttä: 25 μm Z-asemointitarkkuus: 0.1 nm Sovellukset: SICM (Hoppauksen tila), SECM, Älykäs Patch-Clamp, Mikroinjektio, QNM, pH-kartoitus Tyypillinen kuvantamisaika: alle 5 minuuttia (riippuu pisteiden määrästä ja näytteen karheudesta) Korkean suorituskyvyn matala melu AFM: Z-melu <0.1 nm (RMS 10-1000 Hz kaistalla) AFM-sovellukset: kaikki standardit AFM-kuvantamismuodot (40+), Voima-etäisyys spektroskopia Diffraktiorajoitettu spatiaalinen resoluutio: <200 nm XY:ssä, <500 nm Z:ssä (upotettuna objektiivina) Echelle-harmaa ultrakorkealla dispersio; spektriresoluutio: 0.007 nm (<0.1 cm-1) Korkeimman mahdollisen resoluution optiikkaa käytetään samanaikaisesti AFM/SICM:n kanssa: jopa 1.45 NA Kaksinkertainen skannaus: skannaus näytteen mukaan JA skannaus laserpisteen mukaan (Hot Spot -kartoitukseen TERS:ssä)